Chroma3380 VLSI 測試系統
發布時間：2019-03-27
為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為復雜的發展驅勢，Chroma以此發展方向提供新一代3380系列VLSI測試機臺，包含3380D、380P、3380機型，根據不同的腳位數或同測能力(Parallel Test)，提供需求與成本效益兼具的測試解決方案。
主要特色：
50/100 MHz 測試頻率
50/100 Mbps data rate
1024 I/O pins (最高 1280 I/O pins)
平行測試可達1024 sites
32/64/128 pattern 記憶體
16M capture memory per pin
多樣化 VI 電源
彈性化硬體架構(可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel trim/match 功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
高速時序測試單位 (HSTMU)
支援STDF工具
測試program/pattern轉換器(J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
AD/DA功能卡 (選配)
SCAN 測試功能 (最高 2G
ALPG 測試功能可供記憶體IC用(選配)
CRAFT C/C++ 程式語言
軟體介面與3380P/3360P相同
50/100 MHz 測試頻率
50/100 Mbps data rate
1024 I/O pins (最高 1280 I/O pins)
平行測試可達1024 sites
32/64/128 pattern 記憶體
16M capture memory per pin
多樣化 VI 電源
彈性化硬體架構(可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel trim/match 功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
高速時序測試單位 (HSTMU)
支援STDF工具
測試program/pattern轉換器(J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
AD/DA功能卡 (選配)
SCAN 測試功能 (最高 2G
主要特色：
50/100 MHz 測試頻率
50/100 Mbps data rate
1024 I/O pins (最高 1280 I/O pins)
平行測試可達1024 sites
32/64/128 pattern 記憶體
16M capture memory per pin
多樣化 VI 電源
彈性化硬體架構(可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel trim/match 功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
高速時序測試單位 (HSTMU)
支援STDF工具
測試program/pattern轉換器(J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
AD/DA功能卡 (選配)
SCAN 測試功能 (最高 2G M/chain) (選配)
ALPG 測試功能可供記憶體IC用(選配)
CRAFT C/C++ 程式語言
軟體介面與3380P/3360P相同
人性化的 Windows 7作業環境
) (選配)50/100 MHz 測試頻率
50/100 Mbps data rate
1024 I/O pins (最高 1280 I/O pins)
平行測試可達1024 sites
32/64/128 pattern 記憶體
16M capture memory per pin
多樣化 VI 電源
彈性化硬體架構(可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel trim/match 功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
高速時序測試單位 (HSTMU)
支援STDF工具
測試program/pattern轉換器(J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
AD/DA功能卡 (選配)
SCAN 測試功能 (最高 2G M/chain) (選配)
ALPG 測試功能可供記憶體IC用(選配)
CRAFT C/C++ 程式語言
軟體介面與3380P/3360P相同
人性化的 Windows 7作業環境
ALPG 測試功能可供記憶體IC用(選配)
CRAFT C/C++ 程式語言
軟體介面與3380P/3360P相同
人性化的 Windows 7作業環境
為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為復雜的發展驅勢，Chroma以此發展方向提供新一代3380系列VLSI測試機臺，包含3380D、380P、3380機型，根據不同的腳位數或同測能力(Parallel Test)，提供需求與成本效益兼具的測試解決方案。
此系列機型之一的VLSI測試系統3380，具有最高1280 I/O pins、256 VI、彈性化架構、以及完整選項功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色； 可符合高同測的市場驅勢，具備1024 I/O pin可同測1024個晶片的能力。除了獨特的4-wire高密度IC電源(VI source) 外，彈性化可調整的架構還可提供Mini & Macro LED驅動IC、CMOS影像感測器(CIS)、及3D影像測試等解決方案；以利涵蓋更廣泛的IC測試功能與應用范圍。
應用范圍
MCU裝置
ADC/DAC混和訊號IC
邏輯IC
ADDA
ALPG
Smart card
Mini & Macro LED驅動IC
CMOS影像感測器 (CIS)
電源IC (Class D IC)
消費性IC
LED驅動IC
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